Equipo de Rayos X EDX-LE para RoHS/ELV Screening
El EDX-LE es un espectrómetro de fluorescencia de rayos X diseñado específicamente para detectar elementos regulados por la directiva “RoHS / ELV ”. Este modelo usa un detector Si-PIN, (Si-PIN semiconductor detector) que no requiere de nitrógeno líquido, lo que permite un menor costo de operación y un mantenimiento más sencillo. Las funciones de análisis automatizadas mejoran la operatividad sin sacrificar su alto nivel de fiabilidad de inspección.
El tiempo requerido desde el inicio de la medición hasta el término es aproximadamente un minuto dependiendo de la muestra, lo que es muy útil en inspecciones de detección de elementos regulados por la directiva “RoHS”.
Características adicionales:
Excepcional ahorro de labor, detección de alta velocidad
- Menor costo de operación, mantenimiento más fácil
- Proporciona funciones específicas necesarias detectar los cinco elementos regulados por RoHS
- Las funciones de configuración sencillas se pueden personalizar
Realiza fácilmente tareas difíciles
- Operación fácil desde la ventana [Screening Analysis]
- Todos los pasos se establecen automáticamente desde la evaluación de los componentes principales hasta la selección de las condiciones